高分辨率透射电镜如何看元素分布_高分辨透射电镜图

hrtem成像原理

hrtem成像原理如下：

高分辨率透射电镜如何看元素分布_高分辨透射电镜图

HRTEM(High Resolution Tranission Electron Microscope )就是高分辨率的透射电镜，它只是分辨率比较高，所以一般透射电镜能做的工作它也能做，但高分辨电镜物镜极靴间距比较小，所以双倾台的转角相对于分析型的电镜要小一些。

HRTEM是透射电镜的一种，将晶面间距通过明暗条纹形象的表示出来。通过测定明暗条纹的间距，然后与晶体的标准晶面间距d对比，确定属于哪个晶面。这样很方便的标定出晶面取向，或者材料的生长方向。

用HRTEM研究纳米颗粒可以通过结合高分辨像和能谱分析结果来得到颗粒的结构和成分信息。

透射电子显微镜是以波长极短的电子束作为照明源，用电磁透镜聚焦成像的一种高分辨率、高放大倍数的电子光学仪器。

透射电子显微镜是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上（片状< 100 nm，颗粒< 2 um），电子与样品中的原子碰撞而改变方向，从而产生立体角散射。图片的明暗不同（黑白灰）与样品的原子序数、电子密度、厚度等相关。

成像方式与光学显微镜相似，只是以电子代替光子，电磁透镜代替玻璃透镜，放大后的电子像在荧光屏上显示出来。

透射电子显微镜按加速电压分类，通常可分为常规电镜(100kV)、高压电镜(300kV)和超高压电镜(500kV以上)。提高加速电压，可提高入射电子的能量，一方面有利于提高电镜的分辨率；同时又可以提高对试样的穿透能力。

透射电镜图谱怎么分析

透射电子显微镜是一种具有高分辨率、高放大倍数的电子光学仪器，被广泛应用于材料科学等研究领域。透射电镜以波长极短的电子束作为光源，电子束经由聚光镜系统的电磁透镜将其聚焦成一束近似平行的光线穿透样品，再经成像系统的电磁透镜成像和放大，然后电子束投射到主镜简下方的荧光屏上而形成所观察的图像。在材料科学研究领域，透射电镜主要可用于材料微区的组织形貌观察、晶体缺陷分析和晶体结构测定。

明暗场成像原理:晶体薄膜样品明暗场像的衬度(即不同区域的亮暗别)，是由于样品相应的不同部位结构或取向的别导致衍射强度的异而形成的，因此称其为衍射衬度，以衍射衬度机制为主而形成的图像称为衍衬像。如果只允许透射束通过物镜光栏成像，称其为明场像；如果只允许某支衍射束通过物镜光栏成像，则称为暗场像。有关明暗场成像的光路原理参见图2-1。就衍射衬度而言，样品中不同部位结构或取向的别，实际上表现在满足或偏离布喇格条件程度上的别。满足布喇格条件的区域，衍射束强度较高，而透射束强度相对较弱，用透射束成明场像该区域呈暗衬度；反之，偏离布喇格条件的区域,衍射束强度较弱，透射束强度相对较高，该区域在明场像中显示亮衬度。而暗场像中的衬度则与选择哪支衍射束成像有关。如果在一个晶粒内，在双光束衍射条件下，明场像与暗场像的衬度恰好相反。

如何分析高分辨透射电镜晶格条纹间归属于哪个晶面

如果在TEM图像中看到晶格条纹，可对标定后的图像进行FFT，得到一对或多对点，（如果点足够多，也可能是看到环或者弧线段，但都可以看成是点的），量取点到中心的距离（单位是nm^-1），求倒数，即为所对应晶面的晶面间距（单位是nm）。原理上，这样的测算结果跟直接在TEM图像上测量晶格条纹的间距得到的结果是一样的，但实际上通过FFT得到的是大量同类晶面的统计结果，精度远高于直接测量，有很多时候直接测量甚至是无法完成的。FFT测算出的晶面间距，其数值可于XRD卡片中的某个d值对应。

以上只是大致方法，不知道你的知识基础和样品具体情况，欢迎追问。