xrf测试仪_xrf测试仪价格

请问什么是XRF测试

XRF：X射线荧光光谱分析（X Ray Fluorescence)。人们通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光（X—Ray Fluorescence），而把用来照射的X射线叫原级X射线。所以X射线荧光仍是X射线。

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一台典型的X射线荧光（XRF）仪器由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。

探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。X射线照在物质上而产生的次级X射线被称为X射线荧光。

利用X射线荧光原理，理论上可以测量元素周期表中的每一种元素。在实际应用中，有效的元素测量范围为11号元素（Na）到92号元素（U）。

XRF测试本身是一种方法，即X射线荧光光谱法（XRF）

原理是使用X射线照射样品产生的特征荧光，进行定性和定量分析。

XRF镀层测厚仪的原理是什么?

1、原理：X射线照射样品，经过镀层界面，射线返回的信号发生突变，根据理论上同材质无限厚样品反馈回强度的关系推断镀层的厚度。理论上两层中含有同一元素测试很困难（信号分不开）。\x0d\x0a2、XRF镀层测厚仪：\x0d\x0a俗称X射线荧光测厚仪、镀层测厚仪、膜厚仪、膜厚测试仪、金镍厚测试仪、电镀膜厚仪等。\x0d\x0a功能：精密测量金属电镀层的厚度。\x0d\x0a应用范围：测量镀层,涂层,薄膜,液体的厚度或组成,测量范围从22(Ti)到92(U)。

日立XRF测厚仪对胎儿有害吗？

镀层测厚仪对材料表面保护、装饰形成的覆盖层进行厚度测量的仪器，测量的对象包括涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等(在有关和标准中称为覆层(coating))。

覆层厚度的测量方法主要有：楔切法，光截法，电解法，厚度测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中前五种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。

X射线和β射线法是无接触无损测量，但装置复杂昂贵，测量范围较小。因有放射源，使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。

日立分析仪器XRF镀层测厚仪系列在电子和金属表面处理行业已有超过40年镀层分析的成功经验。X-Strata920 XRF镀层测厚仪可确保镀层符合规格要求，并将镀层过量或过少镀层废料造成的浪费减至少。随着X-Strata功能的扩展，用户可以通过该仪器进行更多工作。这一款新型X-Strata意味着可选择高分辨率硅漂移探测器（SDD）或正比计数器定制仪器，以优化其性能。此外，它现在拥有四个腔室和基座配置，可处理各种形状和尺寸的样品，包括汽车行业中的复杂几何形状。对于复杂的镀层结构，SDD可以提供优于正比计数器的优势，因为它更易分析具有类似XRF特征的元素，例如镍和铜。这扩大了可以用于分析的元素范围，包括磷 — 对于化学镀镍分析非常关键，并且可以更地测量较薄镀层，例如符合IPC-4552A的纳米范围的金。有

嗯，有一定的影响，但是影响不是特别大。

日立XRF测厚仪对胎儿应该没有危害的

我觉得是有一点的，所以在怀孕的时候不要用的

任何电子仪表或多或少有辐射，也就是说对胎儿有害。

有影响，孕妇不要使用。

只要是电子设备就会有辐射的产生，建议原离，或是穿防辐射服

任何设备对胎儿检测多都会有伤害的

电子产品都有辐射啊，肯定不太好吧

除了必要的，尽量不要去检测

xrf测试是测试什么的

XRF指的是X射线荧光光谱仪,可以快速同时对多元素进行测定的仪器。

当一束高能粒子与原子相互作用时，如果其能量大于或等于原子某一轨道电子的结合能，将该轨道电子逐出，对应的形成一个空穴，使原子处于激发状态。当较外层的电子跃迁(符合量子力学理论)至内层空穴所释放的能量以辐射的形式放出，便产生了X荧光。X荧光的能量与入射的能量无关，它只等于原子两能级之间的能量。由于能量完全由该元素原子的壳层电子能级决定，故称之为该元素的特征X射线，也称荧光X射线或X荧光。

XRF测试机对辐射对人伤害大不？

XRF仪器是有辐射，XRF的辐射量很低，功率很小。

X射线在穿透人体时，会对人体产生轻度危害，引起人体生物大分子及水分子的电离和激发反应，产生知有害效应，无任何防护的照射就会对人体造成射线损伤。

射线对人体造成的伤害，绝大部分会长期潜伏在体内，破坏免疫系统。分析仪的X射线不会直接穿透人体的，但也需要防护装置，即使是在有防护装置不直接接触的情况下，日积月累，也是一件很可怕的事情。

扩展资料：

相关场景的X光辐射：

1、行李X光安检仪与医用X光成像仪原理相同，但因为行李安检时对成像质量的要求没有医学上那样高，所以行李安检仪中X光的强度要小得多，辐射剂量约为医用X光成像仪的1%。

2、机场安检X光全身扫描仪所用到的是后向散射X光探测技术，使用的是能量较低的X光，仅能进入人体皮肤组织几毫米。X光与被测物内的电子发生碰撞，能量会发生损失，且能量损失的大小与被测物的密度有关。

3、X光全身扫描仪探测反射回的X光能量及强度变化，从而区分人体皮肤组织和、武器等金属物品。因为全身扫描仪所用的X光的能量和强度都较低，所以接受一次全身安检所受到的辐射剂量大约相当于拍一次X光片的五千分之一，影响是比较小的。

膜厚测试仪的萤光X射线装置（XRF）

X射线的能量穿过金属镀层的同时，金属元素其电子会反射其稳定的能量波谱。通过这样的原理，我们设计出：膜厚测试仪也可称为膜厚测量仪，又称金属涂镀层厚度测量仪，其不同之处为其即是薄膜厚度测试仪，也是薄膜表层金属元素分析仪，因响应全球环保工艺准则，故目前市场上普遍使用的都是无损薄膜X射线荧光镀层测厚仪。

XRF测试仪的定性及定量分析

主要是指测试的精确度，一般来说XRF的测试精度比较低，一般测试结果做得比较理想的情况都有10%以上的误，同时看在应用在哪些方面的测试，测什么基材的什么元素，本底的影响等。

一般是定性分析，现在XRF应用在ROHS比较多，它主要来进行定性分析，看看是否达到ROHS标准要求。当然如果要求不高的百分比的含量测量是可以达到精度要求的，是可以定性的，同时可以多用标样来提高它的测试精确度。

基本介绍

现代X射线荧光光谱分析仪由以下几部分组成：X射线发生器（X射线管、高压电源及稳定稳流装置）、分光检测系统（分析晶体、准直器与检测器）、记数记录系统（脉冲辐射分析器、定标计、计时器、积分器、记录器）。不同元素具有波长不同的特征X射线谱，而各谱线的荧光强度又与元素的浓度呈一定关系，测定待测元素特征X射线谱线的波长和强度就可以进行定性和定量分析。

以上内容参考：