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雪崩光电二极管反向电压_雪崩二极管偏置电压

什么是雪崩二极管

这类二极管就是通常所说的稳压二极管,这种二极管当施加在其两端反向电压增大到一定数值时,反向电流会突然增加很多,这个电压为反向电击穿。

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雪崩二极管和齐纳二极管实际就是通常说的稳压二极管

常用的稳压二极管就是雪崩二极管还有

光电二极管

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qizhan

借光楼主,我对这个问题也不明白,请问liuking123:

雪崩二极管和齐纳二极管有什么区别?

雪崩二极管用在什么地方?

稳压二极管应该是齐纳二极管;

如蒙解释,万分感谢!

非常感谢楼上的耐心解释;

我是搞电子技术应用的,我好奇怪,还有我不知道的二极管?

通过您的解释才想起,是楼主的问题不对;

没有雪崩二极管,二极管的雪崩击穿是不可恢复的,是破坏性的;

只有二极管的反向电压超过它的耐压值,才会发生雪崩击穿。

雪崩击穿是指pn结内做漂移运动的少子受强电场的加速作用获得很大的动能,当它与结内原子碰撞时,把其中的电子撞出来,产生新的电子空穴对,新产生的电子空穴对在电场的作用下,又去撞击其他的原子,这样下去,就像雪崩一样.这种情况一般发生在掺杂浓度较低,外加电压较大的情况下

齐纳击穿是由于PN结中掺杂浓度高,形成的PN结很窄,即使是电压很低(5v一下)的情况下,结内电场也非常强,它可以把结内电子从共价键中拉出来引起反向电流的剧增

我这答案不采纳,可就伤我心了啊!!!各位

二维材料,为雪崩光电探测器带来新思路

研究要点

1.首先总结了二维(2D)光电探测器中典型的光电探测机制类型。2.然后讨论了基于传统硅和III-V族化合物半导体的碰撞电离和雪崩光电探测器引起的雪崩机理。3.后,详细介绍了一系列基于2D材料及其范德华异质结构的新兴雪崩光电探测器,及其在光子计数技术领域的潜在应用。4.回顾了近的研究进展并讨论2D雪崩光电探测器所面临的挑战,并为2D超灵敏光电探测器(如单光子探测器)未来的研究方向提供了一些观点。

研究背景

光电探测器是当今使用广泛的技术之一。它们已被广泛用于传感器,接收来自遥控器的红外信号的接收器,光纤连接中的光电二极管,手机或照相机中的图像传感器以及太空 探索 的焦平面阵列等领域。由常规的半导体(例如硅,InGaAs,InSb,HgCdTe等)构建的光电探测器可以检测从可见光到中长波红外的光子。在过去的几十年中,材料的研究和器件制造技术日趋成熟,使得研究具有更高检测率,较快速响应速率和高分辨率的更先进的光电探测器成为了可能。但是,在可穿戴电子设备,智能机器人技术,无人飞行器(UAV)或自动驾驶 汽车 等新兴领域,迫切需要轻巧、不冷却并且具有机械柔性的光电探测器。近几年,二维(2D)层状材料已引起光电探测器界的巨大研究兴趣,与传统的块状材料相比,它具有自钝化表面,强光-物质耦合,可调费米能级和机械柔韧性等特性。无带隙的二维层状石墨烯可以与波长范围从紫外线到微波的光发生相互作用,因此它在宽光谱范围内进行各种类型的光检测具有非常大的潜力。 然而,其无带隙的特性无法实现具有高信噪比的光电检测器。 2D过渡金属二卤化金属(TMD)具有随厚度变化的能带隙,主要在可见光到近红外范围内表现出高效的光电检测特性。对此,2D层状材料与其他nD材料(n = 0、1和3)的组合所形成的范德华异质结构,可以实现各种光电探测器。二维层状材料由于其原子尺度薄的特性从而具有较低的光吸收系数。实现载流子倍增的碰撞电离是设计具有高检测效率的二维光电探测器的有前途的策略。然而,在二维光电探测器中通过碰撞电离产生的雪崩效应尚未得到广泛研究。

核心内容

有鉴于此, 中科院上海技术物理研究所的Jinshui Miao课题组和美国大学的Chuan Wang课题组对由二维层状材料及其范德华异质结构构成的雪崩光电探测器进行了综述,重点介绍了其在单光子计数技术领域的潜在应用。

要点1. 二维光探测器的机制

二维范德华力异质结光电探测器通常受光伏效应的支配,光伏效应是指光生载流子在异质结,同质结或肖特基结中被内部电场分离至结两端聚集产生电势的现象。在WSe2/MoS2 p-n结中,光子在WSe2和MoS2中被吸收,从而在每一层中产生电子-空穴对。然后,电子和空穴通过内置场在整个p-n结处空间分离。后,松弛的载流子横向扩散至源极和漏极触点,从而导致光电流。

在载流子扩散期间,可能发生层间复合这降低了2D光电探测器的效率。在这种类型的2D MoS2器件中,光电效应导致晶体管阈值电压发生偏移,因为电荷从沟道转移到附近的分子。

光电导效应归因于载流子在二维MoS2的带尾态中的俘获。在二维MoS2光电探测器中,金电极和单层MoS2具有不同的塞贝克系数。激光的局部吸收会导致MoS2通道和金电极之间结的局部加热。在独立的聚酰亚胺薄膜上制造基于2D BP的柔性光电探测器,其导热系数约为0.2 W /(m·K)。聚酰亚胺的导热率明显低于导热率约为150 W /(m·K)的硅。入射激光会在2D BP设备下方产生局部加热点,因此由于增强的声子散射,载流子迁移率会降低,因此会导致负光电流。

要点2. 雪崩光电二极管的机制

雪崩光电二极管是一种极其灵敏的光电探测器,可以将光转换为电流或电压信号。雪崩光电二极管通常在数十甚至数百伏的相对较高的反向偏置电压下运行。在这种情况下,光生电子-空穴对通过电场加速,因此它们可以通过碰撞电离产生更多的载流子。雪崩过程仅在几微米之内发生,并且可以有效地将光电流放大较高的比例。因此,雪崩光电二极管可以用作极其灵敏的检测器。

硅雪崩光电二极管的载流子倍增因子在50和1,000之间变化。为了检测1100nm之上的红外波长,基于III-V族化合物或锗半导体的雪崩光电二极管是不错的选择。基于InGaAs的雪崩光电二极管比基于锗的雪崩光电二极管昂贵,但具有更低的噪声和更高的检测带宽。

此外,InGaAs半导体具有很高的吸收系数,这允许使用相当薄的吸收层。当雪崩光电二极管通过外部淬灭电子器件在Geiger模式下运行时,甚至可以用于单光子计数技术。硅基单光子雪崩检测器(SPAD)具有低于1 kHz的超低暗计数率和高于50%的检测效率。在实际应用中,必须使用外部淬火电子器件在短时间内将偏置电压重置为击穿阈值以下,以便可以停止雪崩过程,并且可以将SPAD用于检测另一个入射光子。

要点3. 由常规半导体制成的雪崩光电二极管

3.1 硅基单光子雪崩光电二极管

由块状硅半导体制成的SPAD显示出高量子效率(> 50%),这是因为其较厚的光子吸收层(30–50μm)。但是,厚吸收层限制了它的频率响应,因此将硅SPAD的定时分辨率限制在100 ps的水平。对于与时间相关的光子计数技术,需要使用更薄的硅(1–10μm)来将时序分辨率提高到20ps以下。但是,厚结SPAD和薄结SPAD之间需要权衡取舍。厚结SPAD通常具有较高的检测效率,但定时抖动较(光子吸收与SPAD产生输出电脉冲之间的时间间隔的变化);而薄结SPAD的检测效率较低,但定时抖动好。

3.2 基于III-V族半导体的单光子雪崩光电二极管

基于硅的SPAD只能检测波长高达1100 nm左右的光子,因为硅半导体的带隙为1.1 eV。为了将检测波长扩展到电信范围,必须使用窄带隙半导体。诸如InGaAs的III-V半导体的带隙约为0.7 eV,这是用于红外单光子检测的有前途的候选材料。基于InGaAs / InP的SPAD的代表性器件结构,i-InGaAs的带隙约为0.7 eV,用作光子吸收层;InP的带隙约为1.4 eV,p + -InP / i-InP同质结用作载流子倍增区。所有的InGaAs / InP SPAD均基于单独的吸收,电荷和倍增(SACM)区域结构。倍增区保持高电场以启动雪崩增益,而吸收区保持足够低的电场以小化场感应泄漏电流。该设备通常在150至220 K的温度范围内工作,暗计数率低至3 kHz,在1至1.6μm波长范围内的检测效率高达45%,时序抖动低至30 ps。

3.3基于1D半导体纳米线的雪崩光电探测器

用纳米级光电导或光电器件进行检测具有相对较的灵敏度,因此需要大的放大倍数才能检测弱光并终检测单个光子。一维纳米线雪崩光电二极管具有超高的灵敏度,检测极限小于100个光子,可重现的高倍增倍数高达7 104。此外,一维半导体纳米线提供了将光量子点与雪崩二极管结合在一起的独特可能性,从而实现了将单个光子转换为宏观电流以进行有效的电检测。此外,一维纳米线雪崩光电二极管也可用于单光子检测。

2019年,A. C. Farrell等了一个新的吸收和倍增雪崩光电二极管平台,该平台由InGaAs / GaAs异质结纳米线阵列组成,用于单光子检测。InGaAs / GaAs纳米线雪崩光电二极管的暗计数率低至10 Hz,光子计数率低至7.8 MHz,时序抖动小于113 ps。然而,InGaAs / GaAs纳米线雪崩光电二极管中的低温操作限制了其广泛的适用性。

为此,S. J. Gibson等提出了一种使用锥形InP纳米线p-n结阵列的方法,用于在室温下进行有效的宽带高速单光子检测。截断的圆锥形纳米线结构实现了宽带光响应,其外部量子效率超过85%,增益超过105,并且在20 ps以下具有出色的定时抖动。这种基于1D量子纳米线的纳米级雪崩光电探测器为量子通信,遥感和癌症治疗剂量监测等应用提供了新的可能性。

要点4. 由二维层状材料制成的雪崩光电二极管

原子厚度的2D材料因其卓越的光电性能而吸引了光电探测器界的极大研究兴趣。然而,基于2D材料的光电探测器总是受光吸收系数低的困扰,限制了它们的实际应用。为了在2D光电探测器中实现高增益,可以使用支持电生载流子倍增的碰撞电离。

此外,二维材料由于其原子薄的特性,可能在较短的有源区域(

雪崩光电二极管利用什么原理使检测灵敏度提高

光敏二极管和光敏三极管是光电转换半导体器件,与光敏电阻器相比具有灵敏度高、高频性能好,可靠性好、体积小、使用方便等优点。 光敏二极管也叫光电二极管。光敏二极管与半导体二极管在结构上是类似的,其管芯是一个具有光敏特征的PN结,具有单向导电性,因此工作时需加上反向电压。无光照时,光敏二极管截止。当光线照射PN结时,光敏二极管导通。光敏二极管使用时要反向接入电路中,即正极接电源负极,负极接电源正极。常见的有2CU、2DU等系列。 光敏二极管是一种光电转换器件,其基本原理是光照到PN结上时,吸收光能并转变为电能。它具有两种工作状态:(1)当光敏二极管加上反向电压时,管子中的反向电流随着光照强度的改变而改变,光照强度越大,反向电流越大,大多数都工作在这种状态。(2)光敏二极管上不加电压,利用P-N结在受光照时产生正向电压的原理,把它用作微型光电池。这种工作状态,一般作光电检测器。光敏二极管分有P-N结型、PIN结型、雪崩型和肖特基结型,其中用得多的是PN结型,价格便宜。.光敏三极管和普通三极管相似,也有电流放大作用,只是它的集电极电流不只是受基极电路和电流控制,同时也受光辐射的控制。 通常基极不引出,但一些光敏三极管的基极有引出,用于温度补偿和附加控制等作用。当具有光敏特性的PN 结受到光辐射时,形成光电流,由此产生的光生电流由基极进入发射极,从而在集电极回路中得到一个放大了相当于β倍的电流。不同材料制成的光敏三极管具有不同的光谱特性,与光敏二极管相比,具有很大的光电流放大作用,即很高的灵敏度。它由光控三极管和35集成电路两部分组成。图中光敏三极管T1和晶体三极管T2,电阻R1、R2、R3和电容C1、C2等构成光控开关电路。集成电路IC及三极管T3、电阻R4、R5等构成放大电路。平常在光源照射下,T1呈低阻状态,T2饱和导通,IC触发端3脚得不到正触发脉冲而不工作,扬声器无声。当T1被物体遮挡时,便产生一负脉冲电压,并通过C1耦合到T2的基极,导致T2进入截止状态,IC获得一正触发脉冲而工作,输出音频通过T3放大,推动扬声器发出声响 这个估计需要详细的说明才弄的了去硬之城看看吧或许有人会。

雪崩光电二极管的工作原理

雪崩光电二极管是一种p-n结型的光检测二极管,其中利用了载流子的雪崩倍增效应来放大光电信号以提高检测的灵敏度。其基本结构常常采用容易产生雪崩倍增效应的Read二极管结构(即N+PIP+型结构,P+一面接收光),工作时加较大的反向偏压,使得其达到雪崩倍增状态;它的光吸收区与倍增区基本一致(是存在有高电场的P区和I区)。

半导体雪崩光电二极管的工作原理

当一个半导体二极管加上足够高的反向偏压时,在耗尽层内运动的载流子就可能因碰撞电离效应而获得雪崩倍增。人们初在研究半导体二极管的反向击穿机构时发现了这种现象。当载流子的雪崩增益非常高时,二极管进入雪崩击穿状态;在此以前,只要耗尽层中的电场足以引起碰撞电离,则通过耗尽层的载流子就会具有某个平均的雪崩倍增值。

PIN光电二极管与APD雪崩二极管的优缺点

PIN光电二极管与APD雪崩二极管的优缺点:

PIN光电二极管优点在于响应度高响应速度快,频带也较宽工作电压低,偏置电路简单在反偏压下可承受较高的反向电压,而缺点在于I层电阻很大管子的输出电流小,一般多为零点几微安至数微安。

APD雪崩二极管具有功率大、效率高等优点,它是固体微波源,特别是毫米波发射源的主要功率器件,广泛地使用于雷达、通信、遥控、遥测、仪器仪表中,其主要缺点是噪声较大。

应用

PN结型光电二极管与其他类型的光探测器一样,在诸如光敏电阻、感光耦合元件(Charge-coupled Device, CCD)以及光电倍增管等设备中有着广泛应用。

它们能够根据所受光的照度来输出相应的模拟电信号(例如测量仪器)或者在数字电路的不同状态间切换(例如控制开关、数字信号处理)。

光电二极管在消费电子产品,例如CD播放器、烟雾探测器以及控制电视机、空调的红外线遥控设备中也有应用。

PIN:

光敏面接收对应波长的光照时,产生光生电流;

雪崩光电二极管(APD):除了和PIN相同部分外,多了一个雪崩增益区,光生电流会被放大,

放大的倍数称为雪崩增益系数。当然同时也会产生噪声电流。

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