为啥四探针测电阻率有正有负_四探针面电阻

用四探针法测量金属薄膜电阻率时可能产生误的根源

四探针法是测量一恒流源在样品不同位置引起的电位得出材料的电阻率 . 为获得的测试结果,必须保持四根探针和样品表面良好、稳定的弹性接触. 它要求探针比较尖及保持适当的接触压力,这就常常造成材料表面损伤并使测量值易受外界干扰,这种情况在测量薄条带或薄膜样品时更为明显. 另外,虽然测量电流很小( < 100 mA) ,但探针与样品接触的面积也很小,由局部热效应产生的电动势有时能达到被测量信号的量级. 虽然改变电流方向可以抵偿大部分热电势影响 ,但对于电阻率的细微变化,还是不易得到好的结果,且不宜连续测量. 在此基础上发展起来的交流四探针方法[17 ] ,能够消除电接触区的热电势,但它对交流电流源和检测信号的交流放大器稳定性的要求极为严格,且仍存在接触稳定性问题. 这些因素造成四探针法对于电阻值的微小变化不敏感,阻碍了仔细分析材料组织结构的微弱变化过程

为啥四探针测电阻率有正有负_四探针面电阻

为啥四探针测电阻率有正有负_四探针面电阻

请问四探针发测电阻的原理是什么？

四探针法测量电阻率有个非常大的优点，它不需要较准；有时用其它方法测量电阻率时还用四探针法较准。 与四探针法相比，传统的二探针法更方便些，晶格电子这些都是有的

大学物理实验中有用双臂电桥测电阻，通常是测量低电阻，双臂电桥有四个测量电极，也可以算是四探针。更一般的四探针法应用更广泛。详细原理可参考：四探针法测电阻率

四探针法选择样品不同位置对测试结果的影响

计算不同：

内标法：通过内标物与对照品的浓度、峰高/面积计算校正因子，然后通过校正因子、待测物峰高/面积、内标物浓度、峰高/面积，计算待测物浓度；需要与待测物性质非常相似的内标物。外标法：通过对照品浓度、峰高/面积和待测物的峰高/面积，计算待测物浓度。

二、含义不同：

内标法是色谱分析中一种比较准确的定量方法，尤其在没有标准物对照时，此方法更显其优越性。

外标一点法按梯度添加一定量的标准品（对照品）于空白溶剂中制成对照样品，与未知试样平行地进行样品处理并检测。从而推算出未知试样中被测组分浓度的定量方法。

内标法的特点

测定的结果较为准确，由于是通过测量内标物及被测组分的峰面积的相对值来进行计算的，因而在一定程度上消除了作条件等的变化所引起的误。作过程中样品和内标是混合在一起注入色谱柱，因此只要混合溶液中被测组分与内标的量的比值恒定，上样体积的变化不会影响影响定量结果。内标法抵消了上样体积，乃至流动相、检测器的影响。

以上内容参考：百度百科-内标法

回答于 2021-06-26

1、掌握四探针测量半导体材料电阻率和薄层电阻的测量原理及方 法;

2、 针对不同几何形状的样品，掌握其修正方法；

3、 测试给定的三块不同规格样品数据，使用 EXCE软件对样品的

数据进行计算和处理，如电阻率、方块电阻、标准、不均匀度， 画出电阻率波动图

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【实验原理】

1.半导体材料的电阻率

在半无穷大样品上的点电流源， 若样品的电阻率p均匀，引入点电

流源的探针其电流强度为I，则所产生的电力线具有球面的对称性， 即等

位面为一系列以点电流为中心的半球面，如图 1所示。在以r为半径的半

球面上，电流密度j的分布是均匀的：

四探针法测量材料电阻哪些因素能够使实验结果产生误

和你的测量方法，实验器材等很多因素有关了。造成误的主要原因有系统误和随机误，而系统误有下列情况：视、刻度误、磨耗误、接触力误、挠曲误、余弦误、阿贝 (Abbe) 误、热变形误等。系统误的大小在测量过程中是不变的，可以用计算或实验方法求得，即是可以预测，并且可以修正或调整使其减少。误分析可是一门学问哦

四探针法同一电流状况下正反向电压所测得电阻率值不同怎么处理

通过施加激励电流检测电压。四探针法通常用来测量半导体的电阻率。四探针法测量电阻率有个非常大的优点，不需要校准；有时用别的方法测量电阻率时还用四探针法校准。四探针法同一电流状况下正反向电压所测得电阻率值不同需要通过施加激励电流检测电压。阻值，是电阻中很重要的一种参数，其阻值主要是表示物质阻碍电流通过的具体数值。

四探针法测电阻率

四探针测试技术，简称为四探针法，是测量半导体电阻率常用的一种方法。

四探针测试技术，是用4根等间距配置的探针扎在半导体表面上，由恒流源给外侧的两根探针提供一个适当小的电流I，然后测量出中间两根探针之间的电压V，就可以求出半导体的电阻率。

对于厚度为W（远小于长和宽）的薄半导体片，得到电阻率为ρ=ηW(V/I)，式中η是修正系数。特别，对于直径比探针间距大得多的薄半导体圆片，得到电阻率为ρ= (π/ln2)W(V/I)= 4.532 W(V/I) [Ω-cm]，其中W用cm作单位。

负电阻与正电阻有何不同

先说个东西：R=βL/S

说明：R：电阻大小

L：导体长度

S：导体

横截面积

β：找不到那个字母，是密度那个字母，叫“肉”，这个是电阻率，它是物体本身的性质，但与温度有关，所以通常情况下一个确定的导体，它的电阻只与它的电阻率有关，也就是和温度有关。对了，不同的材料有各自不同的电阻率！

正电阻就是电阻率随温度的升高而增大的电阻，就是普通的电阻。

负电阻就是电阻率随温度的升高而减小的电阻，也叫

光敏电阻

或者是

热敏电阻

。

负电阻不是自然界存在的，必须是由电子线路等非线性元器件形成，如受控电流源、单结晶体管的负阻区等，其负阻条件较为抠克。正电阻是客观稳定存在的。

四探针法测电阻率为什么对样品厚度形状和探针进行修正

原因是: 1．接触电阻的影响严重。探针与半导体接触产生一定厚度的耗尽层，耗尽层是高阻的, 另外探针和半导体之间不像与金属之间一样很好的接触, 还会产生一个额外的电阻, 称为扩展电阻，两者都是接触电阻，通常都很大. 半导体的实际电阻相对于它们越小, 测量结果就越不准确.2．存在少子电注入. 专用方法：四探针法, 两根探针输入测量电流, 另外两根探针测量电压分布. 要是懂电流计, 电压计和电阻计的原理, 就能更明白了.晶格电子是这个方面的行家